全國中小學科展

自動X光檢測重建2.5D圖形用於非破壞性檢測:印刷電路板之應用

科展類別

臺灣國際科展作品

屆次

2022年

科別

電腦科學與資訊工程

學校名稱

臺北市私立薇閣高級中學

指導老師

陳志成;李彥廷

作者

程顯恩;康哲維;謝承叡

關鍵字

2.5D重建、X光模擬、影像辨識

摘要或動機

為了解決自動光學檢測的非穿透性檢測物體方式,使用自動X光檢測能解決此問題,因此,本研究嘗試開發自動X光檢測技術,並藉由常見的印刷電路板作為應用。作為結果,本研究能進行X光模擬理想化印刷電路板,搭配實體X光取像,藉由平移堆疊法重建出2.5D印刷電路板影像,並藉由霍夫法圓形辨識圈選錫球,輸入卷積神經網路,辨識錫球焊點之優劣。

190010.pdf

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