單晶片應用於外徑量測之另類思考設計與研究
量測是決定產品品質良否之重要因素,由於它不斷的進步,促使今日之產品更為精密、可靠。尤其現代工業係採大量生產的型態下,選用快速、簡便、低成本的量具是必然的趨勢。本研究係採用數學理論計算出外徑和 V 型座之關係,再結合物理槓桿原理,得到適合之縮放比,使量測範圍得以擴大,最後由電子式量錶顯示值傳輸至單晶片計算器,計算處理為實際量測尺寸。由於設計考慮簡單化、合理化,雖然在加工、檢測、組裝碰到許多困難,但皆能克服解決,除了一些在學校受限設備無法做到的,如 V 型座兩面銅銲碳化鎢片並研磨,以增加接觸點硬度,降低磨耗等。但是設計上已針對目前普遍採用之量具缺點改進,如旋轉心軸螺桿速度慢,支承定位不準確,造成累積誤差等,尤其本作品要發展為自動化量測之可行性高,值得繼續深入探討。